产品: IS 12-SI红外测温仪
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产品简介: IS 12-SI红外测温仪是IS12的补充型号专门为测量硅晶体的温度而设计的远红外非接触式测温仪。此款测温仪应用了近红外线窄带设计,并带有一个窄带滤波器,这样就可以实现从350℃开始测量透红外线的硅晶体的温度.

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IS 12-SI红外测温仪光谱范围近远红外线窄带,专门用与测量硅晶体的温度.IS 12-SI红外测温仪带有6个固定镜头和三个可变镜头,IS12-Si IS12的补充型号专门为测量硅晶体的温度而设计的远红外非接触式测温仪。IS 12-SI红外测温仪应用了近红外线窄带设计,并带有一个窄带滤波器,这样就可以实现从350开始测量透红外线的硅晶体的温度
测温范围
400...900    350...1000    500...1800    400...1300
信号处理
光电流马上被数字化
光谱范围
近远红外线范围窄带
测温精度
在发射率选择正确的情况下, (ε = 1, t90 = 1 s, TU = 23°C)
1500以下为测温值℃±0+ 1K
1500
以上为测温值℃±0,5%
环境温度影响
tK ≤ 测量值的0,01%x dT (外壳温度- 23)
显示
内置五位液晶显示屏,另带有功能键液晶显示
分辨率
数字显示及接口为1,模拟输出小于测温范围的0,025%
重复精度
测量值℃的0,1%±1K
响应时间
t90: 10 ms 可调至10 s
发射率ε
0.100 ... 1.000 ,,每步可调0.01
模拟输出
线形,直流电流0 20mA420mA可以转换
负载
0500欧姆
测试电流输出
10 mA/每一个信号
瞄准装置
内装有无视差的直通式瞄准装置,另有附加的激光导向灯。
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